儀器:
電鍍層膜厚測定儀(X-RAY Fluorescence Measuring Systems)

檢測項目:
單一鍍層、雙鍍層.例如:Au、Ni、Zn...或Au/Ni/Cu、Cr/Ni/Fe...等。
二元合金層:例如:合金膜厚。
 三元合金層:例如:Ni上的AuCdCu合金。
四層膜厚:例如:PCB產業的Au/Pd/Ni/Cu/Br等。


特色:
非破壞性測量;奈米級X-Ray膜厚儀配備半導體檢知器與poly capillary聚焦光學系統。
最小測試光束可至0.03mm,非常適用於超薄超微小面積的樣品。
它可以使儀器在沒有標準片校準並保證一定測量精度的情況下測量複雜的鍍層系統。